XAXH-3207 125I, 131I碘表面污染测量仪

一、XAXH-3207¹²⁵I,¹³¹I碘表面污染测量仪仪器简介

XAXH-3207¹²⁵I,¹³¹I碘表面污染测量仪，采用闪烁探测法，一种便携式低能γ放射性沾污测量仪。用以检测放射性工作场所和实验室的工作台面、地板、墙面、手、衣服、鞋等表面受¹²⁵I或¹³¹I放射性污染的程度。对医院涉及放免药盒、同位素示踪等使用低能γ放射性同位素的场所，是*的防护测量仪。

本仪表为液晶显示小型可携仪表，仪器显示测量结果时发出音响讯号。液晶显示高压值和电池欠压提示。电路采用微分测量法，可将入射的¹³¹I放射性对¹²⁵I污染测量的影响减小到zui小程度。

二、XAXH-3207¹²⁵I,¹³¹I碘表面污染测量仪主要指标

计数容量：0～9999 cps

定 时：1～60＂，默认2＂

测量范围：¹²⁵I：0～9999 cps

¹³¹I ：0～9999 cps

γ能量范围：¹²⁵I：25～65Kev；¹³¹I： 364Kev

表面活度响应

用探测效率表示：¹²⁵I≥50% 本底≤5Hz

¹³¹I≥10% 本底≤30Hz

相对固有误差：≤±25%

变异系数：仪表对于随机的统计涨落而产生的示值变异系数＜±10%。

电池寿命：在正常使用条件下5#电池三节一次能连续使用12ｈ（背光关闭）；采用3.7V充电电池可连续20h（背光关闭）

高温误差：仪器在45±2℃条件下，通电4小时，其测量误差≤±20%.

低温误差：仪器在-8±2℃条件下，通电4小时，其测量误差≤±20%.

潮湿误差：仪器在相对湿度为95±3%（40±2℃）条件下，不通电放置48小时，其测量误差≤±10%（因温度引起的误差除外）

工作环境：

环境温度：-10～+55℃

相对湿度：≤95±3%（40±2℃）

XAXH-3207¹²⁵I,¹³¹I碘表面污染测量仪 www.gt-paris.com